納米粒度及zeta粒度儀是一種用于測量納米材料電位和粒度分布的重要儀器。其原理基于電泳或電滲原�，通過測量納米顆粒在電場作用下的移動行�，來獲得其電位和粒度信息�
目前海鑫瑞科技的納米粒度及zeta粒度儀不僅可以得到粒度、電位的�(shù)據之�，還可以得到分子�、溫�/時間趨勢、以及隨著溶液PH的變化電位的變化�(shù)據等�
一機多用的科研好幫�
首先，讓我們了解一下粒度測量原� �
納米粒度及zeta粒度儀則是基于光散射原理進行測量。當一束激光照射在納米顆粒上時�光的散射角度與顆粒的大小有關。通過測量散射角度，可以得到顆粒的粒度分布情況�
其次是電位測量原理：
在Zeta電位納米粒度儀�，通常使用電泳光散射法來同時測量納米顆粒的電位和粒度�
在電場作用下，通過測量納米顆粒的電泳速度和光散射強度，可以推算出其電位值和粒度分布�這種方法既具有高靈敏�，又能夠快速分析大量樣本�
此外，Zeta電位納米粒度儀還具有非侵入性測量的�(yōu)�，無需操作者與樣品接觸，避免了污染和干�，確保了測量結果的準確性和可靠��
總的來說，納米粒度及zeta粒度儀的原理是結合電泳和光散射技�，通過測量納米顆粒�電場作用下的運動行為和光散射特性，來獲得其電位和粒度信�。這種儀器在納米材料�
研究和開�(fā)中具有重要的應用**，為材料科學、環(huán)境保護和生物�(yī)學等領域的研究提供了有力支持�